中國電子科技集團公司第五十八研究所二○○六年度新品設(shè)計定型暨成果鑒定會在錫召開

2006年12月24日于無錫,由中國電子元器件質(zhì)量認證委員會和信息產(chǎn)業(yè)部主持召開了中國電子科技集團公司第五十八研究所2006年度新品設(shè)計定型暨成果鑒定會,會議取得了圓滿成功.

作 者：   作者單位：   刊 名： 電子與封裝  英文刊名： ELECTRONICS AND PACKAGING  年，卷(期)： 2007 7(1)  分類號：   關(guān)鍵詞：  

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