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軟性海洋沉積物中水含量對(duì)XRF測(cè)試的影響
Avaatech 型X熒光掃描儀是由計(jì)算機(jī)控制的柱狀樣掃描裝置,可以從剖開(kāi)樣品表面直接獲得沉積物的化學(xué)組成,無(wú)需破壞樣品的整體性.能夠?qū)崿F(xiàn)幾乎連續(xù)的測(cè)試,快速地得到從Al到U的所有元素的相對(duì)含量.XRF掃描儀已經(jīng)成功地應(yīng)用于高分辨率、不同時(shí)間序列和時(shí)間尺度的地層對(duì)比以及沉積相和古氣候重建.
作 者: Rik Tjallingii Ursula R(O)hl 劉銳 Rik Tjallingii Ursula R(O)hl LIU Rui 作者單位: 刊 名: 海洋地質(zhì)動(dòng)態(tài) PKU 英文刊名: MARINE GEOLOGY LETTERS 年,卷(期): 2008 24(3) 分類(lèi)號(hào): P7 關(guān)鍵詞:【軟性海洋沉積物中水含量對(duì)XRF測(cè)試的影響】相關(guān)文章:
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