有效介質(zhì)理論在Ag-MgF2復(fù)合納米顆粒薄膜中的應(yīng)用

將描述彌散體系行為的Maxwell-Garnett理論與Bruggeman理論應(yīng)用于Ag-MgF2復(fù)合納米顆粒薄膜,分別計算出該復(fù)合體系在250 nm～830 nm波段范圍內(nèi)的光學(xué)常數(shù)n、k隨波長λ的變化,并與實驗結(jié)果進(jìn)行比較.發(fā)現(xiàn)較之普遍采用的Maxwell-Garnett理論,由Bruggeman理論計算出的n-λ、k-λ曲線的峰位、峰寬及峰位隨Ag組分質(zhì)量百分率的位移都與實驗結(jié)果更為接近.同時對理論結(jié)果與實驗結(jié)果之間存在差異的原因給予了解釋.

作 者： 王佩紅 蔡琪 王磊 孫兆奇   作者單位： 安徽大學(xué)物理系,合肥,230039  刊 名： 真空科學(xué)與技術(shù)學(xué)報  ISTIC EI PKU 英文刊名： VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2003 23(6)  分類號： O484.4+1  關(guān)鍵詞： Ag-MgF2復(fù)合顆粒薄膜   有效介質(zhì)理論   Maxwell-Garnett理論   Bruggeman理論  

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