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粗糙集在診斷規(guī)則提取中的應(yīng)用
為了克服專家在診斷規(guī)則提取時(shí)的主觀性,把粗糙集理論引入診斷規(guī)則提取之中.根據(jù)電子設(shè)備故障征兆及故障特點(diǎn),提出一種基于粗糙集理論的診斷規(guī)則提取方法,并通過實(shí)際電路驗(yàn)證了該方法的有效性.該方法為智能故障診斷中規(guī)則知識(shí)的自動(dòng)獲取提供了一條道路.
作 者: 肖小鋒 時(shí)國紅 諶葉飛 XIAO Xiao-feng SHI Guo-hong CHEN Ye-fei 作者單位: 肖小鋒,時(shí)國紅,XIAO Xiao-feng,SHI Guo-hong(空軍裝備研究院,北京,100085)諶葉飛,CHEN Ye-fei(軍械工程學(xué)院,石家莊,050003)
刊 名: 電光與控制 ISTIC PKU 英文刊名: ELECTRONICS OPTICS & CONTROL 年,卷(期): 2007 14(5) 分類號(hào): V271.4 TP277 關(guān)鍵詞: 故障診斷 粗糙集 規(guī)則提取 電子設(shè)備【粗糙集在診斷規(guī)則提取中的應(yīng)用】相關(guān)文章:
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診斷證明05-17